1、適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測定電子組件(以下簡稱組件)于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注:試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性,試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距,試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。
2、裝置:振動裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗且符合下列條件。
(1)振動波形及失真率:施加于供試品之振動波形為正弦波,供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。
(2)振動振幅:規(guī)定振動方向之振幅容許差,須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。
(3)與規(guī)定振動方向垂直之振動:于供試品安裝位置,與規(guī)定振動方向垂直之振動,不論任何方向,其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。
(4)振動頻率容許差:50Hz以下就為±1Hz,超過50Hz時應(yīng)為±2%。
(5)掃描(1)方法:原則是為對數(shù)掃描,但平均掃描亦可。
注:(1)1次掃描,例如10—55——10Hz,是指在規(guī)定振動頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。
3、準(zhǔn)備
3.1 供試品之安裝:將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法,直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時,須能施加振動于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向,且夾具應(yīng)具足夠機械強度,安裝后亦不得松動或發(fā)生共振,組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。
(1) 固定組件本體(有導(dǎo)線之組件,亦同時固定導(dǎo)線)。
(2) 僅固定導(dǎo)線。
4、試驗
4.1 前處理:原則上不作前處理。但有特別需要時,依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。
4.2 初期測定:依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行,檢查外觀。
4.3 試驗方法:依下列各項施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場影響時,于組件中應(yīng)規(guī)定其較大允許值。
4.3.1 試驗方法種類:試驗方法分為Ⅰ(掃描耐久試驗)、Ⅱ(共振點偏移檢出試驗)及Ⅲ(共振點耐久試驗)三種。
(1)試驗方法Ⅰ(掃描耐久試驗):依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定,照下表施行(參照圖)。
振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同,合計6小時。
表
振動種類 試驗條件 | 種類A | 種類B | 種類C |
振動頻率范圍 | 10~55Hz | 100~500Hz | 10~2000Hz |
全振幅或加速度 | 1.5mm | 1.5mm或98m/s2(10G)中較小者 | 1.5mm或196m/s2(20G)中較小者 |
掃描之比例 | 10-55-10Hz 約1分鐘 | 10-500-10Hz約15分鐘 | 10-2000-10Hz約20分鐘 |
掃描方法 | 對數(shù)掃描或平均掃描 |
試驗時間 | 6小時 |
(2)試驗方法Ⅱ(共振點偏移檢出試驗):本試驗是于4.3.1(1)及4.3.1(3)試驗前后施行,以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時之振幅與掃描耐久試驗相同。但如由于減小振幅更能**檢出振動特性。可減小振幅。
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